23948sdkhjf

Ny teknik för att snabbt hitta elektronikfel i bilen

Många bilägare har upplevt att de fått ett elektronikfel på bilen. På verkstaden kan man inte hitta vad som är fel och börjar därför byte ut komponent efter komponent tills man kommit tillrätta med felet. Både tidskrävande och dyrt. Men om bara några år ska dessa problem vara eliminerade.

Den senaste forskningen möjliggör snabb korrigering av fel i bilarnas elektronik. Det är forskningsprojektet Diana i Tyskland som tagit fram ett nytt felsökningssystem för bilelektronik. I Diana ingår företagen Audi, Continental, Infineon Technologies och ZMDI.

I Diana-projektet har företagen fokuserat sin forskning för att på olika sätt förbättra den analytiska och diagnostiska förmågan inom elektroniska styrenheter (ECU) i fordon. Under tre års forskning inom Infineon har metoder skapas som möjliggör mer differentierade möjligheter att upptäcka fel och, i sin tur, korrigera dessa fel i verkstaden mycket snabbare.

Fordonselektronik är numera extremt komplex. I genomsnitt en modern bil använder 80 elektroniska styrenheter och i premiumklassen kan även vara över hundra styrenheter.

Erfarenheten har visat att det inte är möjligt att fastställa den exakta orsaken bakom många av de fel som rapporterats av bilens elektroniska system. Ofta har verkstaden inget annat alternativ än att försöka begränsa definitionen av felet genom att systematiskt ersätta systemkomponenter efterhand för att på detta sätt, till sist har åtgärdat felet.

Tack vare den metod som utarbetats i Diana-projektet kan framtida elektroniska fel i bilar identifieras mycket snabbare, vilket innebär att de kan repareras mer effektivt. De avgörande faktorerna är en ny kvalitetskontroll vid tillverkning av halvledare. Dessa metoder har vidareutvecklats av Diana forskningspartners så att chips som ingår i bilar direkt kan användas på bilens eget diagnossystem. Som ett resultat, kan styrenheterna (ECU) i bilen övervaka sig själva både innan och medan fordonet körs. På grundval av dessa kontinuerligt samlats, själv-diagnostiska data, är det möjligt att upptäcka fel i ett tidigt skede av utvecklingen, eftersom de diagnostiska uppgifterna förs vidare i bearbetad form till överordnade systemkomponenter.
Kommentera en artikel
Utvalda artiklar

Nyhetsbrev

Sänd till en kollega

0.063